窒化シリコン・マイクロリング共振器で生成したスクイーズド光をオンチップで量子測定
要約
チップ上で生成したスクイーズド光を、同じチップ上のパラメトリック増幅器で測定する「オンチップ量子測定」により、結合損失の影響を抑えることに成功しました。結合損失が5デシベルを超えても、4.6デシベルのスクイーズを直接観測し、信号対雑音比を約5デシベル改善できる単一チップのSU(1,1)干渉計を初めて実現しました。
