証明可能な効率性を持つ自己較正型量子誤り耐性の理論的枠組み
要約
量子コンピュータの誤り訂正に必要なアナログ制御値は時間とともにずれます。本論文は、通常の誤り訂正で得られるシンドローム測定を自己較正に使い回し、検出率が局所的に強凸な関数を定めることを証明しました。収束速度は約1/εの二乗に比例し、量子LDPC符号では符号距離に依存しないため、大規模化しても較正コストが増えにくいことを示しています。
