バイアスノイズ下の欠陥を持つ表面符号におけるX-Zラウンドスケジューリング最適化
要約
固体量子プロセッサの製造欠陥に対応するため、XチェックとZチェックを別ラウンドで測定する際の最適なX対Zスケジューリング比を、バイアスノイズ環境下で解析した研究。デバイスの校正データから直接最適比を決定する手法を提案し、距離13の表面符号で欠陥率2%時に最大8.46倍、CNOTクロストーク下でも最大4.5倍の論理誤り率削減を実証した。
