光円錐を超える耐性：IBMがダイナミック回路の誤り検出付きプリミティブを実証

中間測定と古典フィードフォワードを用いるダイナミック回路は定数深さで長距離エンタングルメントを生成できるが、測定数とフィードフォワード遅延に伴う誤りが性能を損なう。本論文は、ファンアウトゲート、多量子ビットPauli回転、W状態・Dicke状態生成などの広範なプリミティブを共通枠組みに落とし込み、補助量子ビットを追加せずに忠実度と事後選択オーバーヘッドを交換する誤り検出手法を提示、さらに深さを削減した誤り検出付きアダマールテストも導入した。超伝導プロセッサ上で100量子ビット鎖にまたがるベル対をF=0.59±0.02（従来手法は0.39±0.01）で生成し、最大40量子ビットのGHZ状態を消費して20量子ビットのW状態を定数深さで準備、忠実度をΔF≈0.2改善した。